納米粒度及Zeta電位分析儀

產品簡介
BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

產品型號：BeNano 90 Zeta

更新時間：2025-05-29

廠商性質：生產廠家

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BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

納米粒度及Zeta電位分析儀基本性能指標

粒徑檢測

原理	動態光散射技術
粒徑范圍	0.3 nm – 15 μm
樣品量	3 μL – 1 mL
檢測角度	90 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

原理	相位分析光散射技術
檢測角度	12°
Zeta范圍	無實際限制
電泳遷移率范圍	＞±20 μ.cm/V.s
電導率范圍	0 - 260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍	2 nm – 110 μm

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

頻率范圍

0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s

測試能力

均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

折光率和粘度測試

粘度范圍

0.01 cp – 100 cp

折光率范圍

1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統參數

溫控范圍	-15°C - 110°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器	快25 ns采樣，多 4000通道，10¹¹動態線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動

軟件

中文和英文

符合21CFR Part 11

檢測參數

●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數 PD.I

●擴散系數 D

●流體力學直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度

檢測技術

●動態光散射

●電泳光散射

●相位分析光散射

●靜態光散射

相關技術

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